РУССКИЙ
УКРАЇНСЬКА
Element 2 / XR™
Element 2TM и Element XRTM — высокотехнологичные масс-спектрометры с ионизацией в индуктивно-связанной плазме для элементного анализа и изотопного скрининга любых образцов с чувствительностью и воспроизводимостью, недоступными ни одному другому прибору в мире.
Element 2TM – система, способная выполнять изотопный скрининг почти всех элементов периодической системы практически во всех матрицах, причем точность определения изотопных отношений составляет соте доли процента, что удовлетворяет большинство потребностей.
Сервис
Пуско-наладочные работы и сдача прибора в эксплуатацию с подтверждением характеристик, указанных в спецификации.
Гарантийное обслуживание
Гарантийное обслуживание, а также негарантийный ремонт производится фирменным авторизованным сервисным центром MEIZU и авторизованными сервисными центрами в регионах.
Профилактическое и послегарантийное обслуживание
Любой ремонт и восстановление оборудования по желанию Заказчика.
Разработка методических рекомендаций для проведения специальных аналитических экспериментов.
Element XRTM обладает линейным динамическим диапазоном 12 порядков. Этот диапазон обеспечивается сочетанием комбинированного вторичного электронного умножителя (с возможностью работы в аналоговом режиме и в режиме счета ионов) с коллектором Фарадея (способным измерять большие ионные токи). На этом приборе можно достигать пределов обнаружения на уровне ppq, а также получать точные результаты количественного анализа благодаря освобождению от интерференций с помощью высокого разрешения. По скорости сканирования этот прибор не уступает квадрупольным системам и значительно превосходит те, которые снабжены камерами соударений.
Аналитические характеристики
- Диапазон масс: от 2 до 264 а.е.м.
- Разрешение: 300, 4 000 и 10 000 (на 10%)
- Чувствительность:
- Режим низкого разрешения (R> 300): 1 105 Li7; > 1 106 In115; > 2 106 U238 (имп/сек на 1 ppb)
- Режим среднего разрешения (R > 4 000): 5 104 Fe56 (имп/сек на 1 ppb) сигнал Fe разрешен от интерференции Ar40O16.
- Режим высокого разрешения (R> 10 000): 5 103 K (имп/сек на 1 ppb) сигнал К39 разрешен от интерференции Ar38H1
- Уровень шума – менее 0.2 имп/сек
- Детектор с линейным динамическим диапазоном 9 порядков, работающий в двух режимах: аналоговом и счета ионов, с автоматическим переключением режима измерения
- Дополнительный коллектор Фарадея в Element XRTM для больших ионных токов, линейный диапазон > 12 порядков
Функциональные характеристики
- Ионная оптика обратной геометрии Нира-Джонсона с двойной фокусировкой
- Плазменный интерфейс с легкозаменяемой горелкой и автоматической юстировкой
- Режимы «горячей» и «холодной» плазмы
- Система ввода образца новая, с уменьшенным эффектом памяти и встроенным перистальтическим насосом
- Термостабилизированный магнит с быстрой разверткой
- Интерференционно-разрешенные спектры
- Работа со сложными матрицами, в том числе органическими
- Высокая точность определения изотопных отношений, сравнимая со специализированными изотопными приборами
- Самонастраивающиеся сменные конуса с возможностью их замены при сохранении вакуума в анализаторе
- Дополнительные устройства ввода пробы: лазерная абляция, газовая и жидкостная хроматография и т.д.; различные автоматические пробоотборники; защитный бокс.
Типичные применения
- контроль окружающей среды
- геология и геохимия
- нефтепереработка
- металлургия
- биология и биохимия
- медицина
- полупроводниковая промышленность
- ядерная промышленность
- пищевая промышленность
- разработка новейших материалов и технологий
